Werkervaring bij Philips [3]
- Coördineren van failure analyse werk betreffende customer complaints binnen een groep van 7 leden bij Semiconductors.
- Ontwikkelen van nieuwe analysetools/-technieken: kleuretsen van cross secties d.m.v. reactief Fe-sputteren in O2-atmosfeer.
- Werken met een Phoenix Microfocus X-ray apparaat, waarmee veel tijdbesparend niet-destructief onderzoek is verricht.
- Reliability verantwoordelijkheid bij de ontwikkeling van een nieuwe CATV module in SOT115 (Phoenix project).
- Publicatie van verkregen waarnemingen m.b.t. degradatie van SAC-soldeer van de HVQFN32 in Journal of Electronic Materials, vol . 34, No. 9 (sept.) 2005